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半导体激光器检测方法——激光器模式测量
摘要:半导体激光器属于红外激光器,一台激光器是否实现了单模(横模或纵模)运转,其运转时是否稳定。都需要有一定的检测方法,对于半导体激光器可以使用显像管。对其模式进行检测。
半导体激光器属于红外激光器,一台激光器是否实现了单模(横模或纵模)运转,其运转时是否稳定。都需要有一定的检测方法,对于半导体激光器可以使用显像管。对其模式进行检测。
红外激光束(如Nd3+:YAG,其λ==1.06um),经扩束后入射在显像管的接收面上,阴极接收光予以后发出光电子,经电子光学系统加速奔向阳极
并聚集在荧光屏上。荧光屏便显现出激光束横模的光强分布图案。对紫外光只需配用合适的阴极材料亦可适用。此方法十分简便,只需配用一台小功率直流高压电源
即可。也可用照相机拍摄不同时刻的横模图像以供研究。
观测横模还可直接拍照,可根据激光器的输出波长来选择感光底片。目前,不同波长的感光底片品种日益增多,因而给横模模式的观测提供了有利条件。
利用某种转换材料(使波长由长变短)制成薄片,可将红外光转换为可见光。这对一些中小功率的红光激光器观测其横模光斑图样十分方便。
上述各种直接观测法的特点是简便,但观测是粗略的,分辨能力不高。
2.光点扫描法测横模。此方法主要用来对连续输出的激光器进行观测。激光束(经扩束镜)扩大光斑后,投射到由电动机带动的转镜上,反射后再投向一带有小孔光阑的光电探测器上,经电子线路放大后接示波器显示波形。
此法可将激光横模模式光强分布的二维图像变换到示波器上,显示出其相应的一维光强分布波形。若为基模,则示波器上呈现出光滑的高斯分布曲线。反之,示波
器上会出现两个以上的波峰对应于多横模状态。右面是示波器上观测到的波形,左面是与之相对应的横模光斑图样。此法对于判定基模比直接观测法好,缩小光阑,
波形清晰度可达相当高的程度,同时还可监视激光横模随时间的变化(稳定状况),这是一种较常用的方法。
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